Samsung công bố nguyên nhân sự cố Galaxy Note7

Ban lãnh đạo Samsung cùng nhóm chuyên gia điều tra độc lập đã có những thảo luận và đề ra các giải pháp.

SEOUL – 23 tháng 1 năm 2017 – Sau nhiều tháng điều tra kỹ lưỡng và chuyên sâu, Công ty điện tử Samsung hôm nay công bố nguyên nhân của sự cố Galaxy Note7 và đưa ra các biện pháp để ngăn chặn sự việc tái diễn trong cuộc họp báo được tổ chức tại Seoul, Hàn Quốc. Ông DJ Koh, Chủ tịch ngành hàng truyền thông di động tại Samsung Electronics đã chia sẻ chi tiết kết quả của cuộc điều tra và bày tỏ lời xin lỗi chân thành cũng như lời cảm ơn sâu sắc đến các khách hàng Galaxy Note7, các nhà khai thác mạng di động, các đối tác bán lẻ và phân phối cũng như các đối tác kinh doanh vì sự kiên nhẫn và hỗ trợ không ngừng mà họ mang lại.

Ngoài ông DJ Koh, tại buổi họp báo còn có sự tham gia của các diễn giả đến từ UL, Exponent và TUV Rheinland, là những công ty chuyên gia đầu ngành độc lập đã tham gia thực hiện việc điều tra và nghiên cứu chuyên sâu trên nhiều khía cạnh khác nhau để phát hiện nguyên nhân gây nên sự cố Galaxy Note7.

Các diễn giả bao gồm:

 
• Sajeev Jesudas, Chủ tịch mảng Kinh doanh Tiêu dùng, công ty UL (President, Consumer Business Unit, UL)
 
• Kevin White, Tiến sĩ, Trưởng nhóm Khoa học, công ty Exponent (Ph.D, Principal Scientist, Exponent)

 
• Holger Kunz, Phó chủ tịch Điều hành Sản phẩm, công ty TUV Rheinland AG (Executive Vice President Products, TUV Rheinland AG)

Các diễn giả đã trình bày, thảo luận về kết quả của cuộc điều tra chuyên sâu và công bố các biện pháp mới nhằm khắc phục sự cố.

Dựa trên những kết quả đạt được trong cuộc điều tra, Samsung đã tiến hành thực hiện một loạt các bài kiểm tra chất lượng và độ an toàn trong quá trình sản xuất nhằm tăng cường độ an toàn cho sản phẩm bao gồm quy trình an toàn nhiều lớp và quy trình kiểm tra pin an toàn trên 8-điểm. Samsung cũng đã thành lập Nhóm Tư vấn về Pin bao gồm các cố vấn bên ngoài, cùng các chuyên gia học thuật và nghiên cứu nhằm đảm bảo duy trì quan điểm rõ ràng và khách quan về độ an toàn và tính đổi mới của Pin. Thành viên của nhóm tư vấn Pin này bao gồm:

• Clare Grey, Tiến sĩ, chuyên viên Hóa học, Đại học Cambridge (Ph.D., Professor of Chemistry, University of Cambridge)

 
• Gerbrand Ceder, Tiến sĩ, Giáo sư Khoa học và Kỹ thuật Vật liệu, UC Berkeley (Ph.D., Professor of Materials Science and Engineering, UC Berkeley)

 
• Yi Cui, Tiến sĩ, Giáo sư Khoa học và Kỹ thuật Vật liệu, Đại học Stanford University (Ph.D., Professor of Materials Science and Engineering, Stanford University)

 
• Toru Amazutsumi, Tiến sĩ kiêm CEO, công ty Tư vấn Công nghệ Amaz (Ph.D., CEO, Amaz Techno-consultant)

“Trong những tháng vừa qua, cùng với các chuyên gia và tổ chức độc lập trong ngành, chúng tôi đã tiến hành điều tra kỹ lưỡng để tìm ra nguyên nhân gây nên sự cố Galaxy Note7.” Ông DJ chia sẻ “Hiện tại, chúng tôi đang quyết tâm giành lại sự tin tưởng của khách hàng hơn bao giờ hết thông qua những sản phẩm cải tiến giúp tái định nghĩa sự an toàn. Và hơn hết, sự đổi mới này cũng như một cánh cửa bước vào thế giới sáng tạo vô tận và những trải nghiệm mới lạ.”

Để biết thêm thông tin hoặc theo dõi toàn bộ nội dung của buổi họp báo, vui lòng truy cập vào website www.samsung.com/vn.