Samsung Electronics da a conocer la causa de los incidentes del Galaxy Note7

El equipo de liderazgo de Samsung y expertos independientes hablaron de la investigación durante una rueda de prensa.

SEOUL – 23 de Enero de 2017 – Después de varios meses de profundas investigaciones, Samsung Electronics anunció hoy la causa de los incidentes del Note 7 y las medidas para prevenir incidencias de este tipo durante una conferencia de prensa en Seúl, Corea. DJ Koh, Presidente de Mobile Communications Business de Samsung Electronics, compartió los resultados detallados de la investigación y expresó sus sinceras disculpas y agradecimientos a los clientes, operadores móviles, retails y distribuidores, y socios comerciales del Galaxy Note7 por su paciencia y apoyo continuo.

Koh fue acompañado por ejecutivos de UL, Exponent y TUV Rheinland, líderes de grupos independientes de la industria que llevaron a cabo su propia investigación sobre varios aspectos de los incidentes del Galaxy Note7.

Voceros incluidos:

• Sajeev Jesudas, Presidente, Unidad de Negocio del Consumidor, UL

• Kevin White, Ph.D, Científico Principal, Exponent

• Holger Kunz, Vicepresidente Ejecutivo de Productos, TUV Rheinland AG

Los oradores discutieron las conclusiones de las investigaciones en profundidad y revelaron las nuevas medidas que Samsung tomó para responder a los incidentes.

Sobre la base de lo que la compañía aprendió de la investigación, Samsung implementó una amplia gama de procesos internos de calidad y seguridad para mejorar aún más la seguridad del producto, incluyendo protocolos adicionales como las medidas de seguridad multi-layer y chequeo de seguridad de batería de 8 puntos. Samsung también formó un Grupo Asesor de Batería, compuesto por asesores externos, expertos académicos y de investigación para garantizar que mantiene una perspectiva clara y objetiva sobre la seguridad de la batería y la innovación. Los miembros del Grupo Asesor de Baterías son:

• Clare Grey, Ph.D., Profesor de Química, Universidad de Cambridge

• Gerbrand Ceder, Ph.D., Profesor de Ciencia e Ingeniería de Materiales, UC Berkeley

• Yi Cui, Ph.D., Profesor de Ciencia e Ingeniería de Materiales, Universidad de Stanford

• Toru Amazutsumi, Ph.D., CEO, Amaz Techno-consultant

“Durante los últimos meses, junto con organizaciones independientes de expertos de la industria, llevamos a cabo una investigación exhaustiva para encontrar la causa de los incidentes Galaxy Note 7.” Koh dijo: “Hoy, más que nunca, estamos comprometidos a ganar la confianza de nuestros clientes a través de la innovación que redefine lo que es posible en la seguridad, y como una puerta de entrada a posibilidades ilimitadas y nuevas experiencias increíbles”.

Para obtener información adicional o para ver la conferencia de prensa completa, visite www.samsung.com/galaxy